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激光粒度分析儀
飛馳干法激光粒度儀(納米型)FRITSCH A22 NeXT Nano干法激光粒度儀(納米型)可干濕兩用,可以讓您根據自己的需求選擇測量范圍:擁有更大測量范圍的ANALYSETTE 22 NeXT 納米型,測量范圍拓展至0.01-3800μm,納米型激光粒度儀擁有的測量精度,附加的檢測器能夠更靈敏的分辨極小的顆粒。
Fritsch公司的Analysette22 NanoTec大量程激光粒度儀,由激光器發出的平行光照射到測量區中的顆粒群時會產生衍射現象,衍射散射光的強度分布被光電探測器捕捉獲取后,將照射光能轉換成相應的電信號,通過相應的算法計算出被測顆粒的平均粒徑以及分布。
Analysette 22 NanoTec干法激光粒度分析儀的運行方式與每個FRITSCH激光粒度儀一樣,采用的是FRITSCH發明的反向傅立葉設計,該設計現已確立為激光粒度儀設計通用標準。您的優勢:在測量單元和檢測器之間沒有額外的光學元件。設計緊湊,部件少,幾乎無需維護。
ANALYSETTE 22 NeXT 進口干濕法一體激光粒度儀可以讓您根據自己的需求選擇測量范圍。
Analysette 22 NeXT 進口濕法激光粒度儀操作和清洗非常簡單,分析時間短,可靠的測量結果和重復性,也可以記錄額外的測量數據如濕法分散過程中體系的溫度及PH值。
Analysette 22 NanoTec飛馳濕法激光粒度分析儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。z低檢測下限可達0.01um。程激光粒度儀A22的推出,可以*替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀。
FRITSCH A22 藥物粒度分析儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。
Analysette 22 NanoTec靜態激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。z低檢測下限可達0.01um。程激光粒度儀A22的推出,可以*替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀。
聯系人:楊經理
郵箱:bill_lee@fritsch.cn
地址:北京市朝陽區裕民路12號E1座一層108室
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